image001.jpg密封電子元器件及電子設備內部多余物問題,一直是影響航天型號和武器裝備可靠性和安全性的重大技術難題。因多余物導致星、箭、彈、航天飛機等發射運行事故已給國家造成無法估量的損失。研究所自2002年開展“×××多余物自動檢測技術”研究工作以來,受國防科工局工業技術基礎和民用航天重點、總裝備部型譜、國家自然科學基金等項目資助。經過十余年攻關,突破一系列關鍵技術瓶頸,取得多項自主創新性研究成果,主要技術指標居于國際領先水平。

                            目前,已經建立了完備的密封電子元器件及電子設備多余物檢測理論體系,研制了一系列具有自主知識產權的密封電子元器件及電子設備多余物自動檢測系統,提出了一種新的PIND試驗規范(制定QJ標準1部、修改GJB兩部),應用航天五院物質部、二院201所、203所、工信部電子四院等30余家單位,正在向全國推廣應用,并于2012年獲國防科技進步一等獎,2014年獲國家科技進步二等獎(2014-J-24201-2)。

                            產品優化設計

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